Ziele
Aufbauend auf Modul SC1, in dem der Schwerpunkt auf Management Aktivitäten und Prozesse gelegt wird, werden in Modul SC2 die einzelnen Prozessschritte im Detail betrachtet. Anhand von Beispielen und Übungen wird die schrittweise Vorgehensweise unter Berücksichtigung der Empfehlungen aus ISO/PAS 19451 vorgestellt.Für Microsoft Teams Teilnehmer gewähren wir ein Rabatt von 10%
Inhalt
- Initiierung des Halbleiter spezifischen Sicherheitslebenszyklus
- Planungsaktivitäten
- Einsatz von SW-Tools
- Betrachtungsebenen in der Halbleiterentwicklung
- IC-Level (System)
- IP-Level
- Gatter/Transistorebene
- Ableitung der Sicherheitsanforderungen
- Auf IC-Ebene
- Auf IP-Ebene
- Sicherheitsgerichtetes Design
- Multicore Architekturen
- Sicherheitsmechanismen
- Diagnostic Coverage
- Beispiele
- Verifikation (Analyse und Test)
- Dependent Failure Analysis (DFA) nach ISO/PAS 19451
- Fehlermodelle auf Halbleiterebene
- Methodisches Vorgehen bei der FMEDA
- Modulare FMEDA
- Berechnung der HW-Metriken auf Halbleiterebene
- Test in der Fertigung
- Betrachtungen zur Fehleraufdeckung während der Produktion
Zielgruppe
Safety Manager, Entwickler aus der Halbleiterbranche, Testingenieure
Präsenztraining2 tage EUR 1.890,00 exkl. MwSt.
{DFE56429-6F1C-454A-9850-FCE3A6EB0BD3}05-Mai-21 09:00 CEST06-Mai-21 14:00 CESTPlätze vorhandenEnglishDeutsch